Pattern classification : a unified view of statistical and neural approaches /

dc.creator	Schurmann, Jurgen
dc.date	1996.
dc.date.accessioned	2022-04-22T21:07:34Z
dc.date.available	2022-04-22T21:07:34Z
dc.identifier	URN:ISBN:0-471-13534-8
dc.identifier.uri	http://test.repositoriodigital.com:8080/handle/123456789/29843
dc.description	1
dc.language	eng
dc.publisher	New York (Estados Unidos) : John Wiley & Sons,
dc.subject	Redes neurales (computadores)
dc.subject	Sistemas de reconocimiento de configuraciones
dc.title	Pattern classification : a unified view of statistical and neural approaches /
dc.type	text

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