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Introduction to metrology management

Introducción a la gestión metrológica

dc.creatorCedeño Tamayo, Orlando
dc.date2011-12-27
dc.date.accessioned2022-04-27T16:31:58Z
dc.date.available2022-04-27T16:31:58Z
dc.identifierhttp://revistas.sena.edu.co/index.php/inf_tec/article/view/19
dc.identifier10.23850/22565035.19
dc.identifier.urihttp://test.repositoriodigital.com:8080/handle/123456789/30483
dc.descriptionThe new millennium brought challenges and paradigms for metrology. Scenarios like telecommunications, information technology, and computers have demonstrated that the speed of technological development hardware currently exceeded software. Modern computer machines have broadened their velocity and storage capacity, it is now common to speak of storage in terabytes. The field of scientific metrology is close to discovering the electronic mass standard based on Avogadro ́s number (6,025⋅10-24) or watt balance, which will broaden measurement accuracy. Soon, when we see a young womanwith a facial mole, it may be an ipod, given the high degree of nanoelectronic development. Recent review of International Basic and General terms in metrology - VIM, now ISO Guide 99:2008, shows a new metrology tendency, whichmust be understood by all the scientific, industrial, and legal community in an ever-more globalized world.en-US
dc.descriptionEl nuevo milenio presentó retos y paradigmas para la metrología, escenarios como los de telecomunicaciones, informática y los computadores han demostrado que la velocidad de desarrollo tecnológico del hardware superó actualmente al software, las máquinas de cómputo modernas han ampliado sus velocidades y capacidades de almacenamiento, es común hablar de unidadesde almacenamiento de Terabytes. El campo de la metrología científica está adportas del descubrimiento del patrón electrónico para la masa, utilizando el número de Avogadro (6,025 ⋅10-24) o la balanza de watt, ampliará la exactitud de las mediciones. Próximamente se verá un lunar en el rostro de una jovencita y esto podrá ser un ipod, dado el alto desarrollo de la nanoelectrónica. El reciente cambio o actualización del Vocabulario Internacional de Términos básicos y generales en Metrología - VIM, hoy conocido como la Guía ISO/ IEC 99:2008 ha marcado una nueva tendencia de la metrología, que debe ser comprendida por toda la comunidad científica, industrial y legal en el mundo, cada vez más globalizado.es-ES
dc.formatapplication/pdf
dc.formattext/xml
dc.languagespa
dc.publisherServicio Nacional de Aprendizaje SENAes-ES
dc.relationhttp://revistas.sena.edu.co/index.php/inf_tec/article/view/19/23
dc.relationhttp://revistas.sena.edu.co/index.php/inf_tec/article/view/19/3436
dc.rightsDerechos de autor 2019 Servicio Nacional de Aprendizaje (SENA)es-ES
dc.sourceInformador Tecnico; Vol. 75 (2011)en-US
dc.sourceInformador Técnico; Vol. 75 (2011)es-ES
dc.source2256-5035
dc.source10.23850/22565035.v75.n0.2011
dc.subjectMetrologyen-US
dc.subjectManagementen-US
dc.subjectQualityen-US
dc.subjectMetrology competenceen-US
dc.subjectMetrologíaes-ES
dc.subjectGestiónes-ES
dc.subjectCalidades-ES
dc.subjectCompetencia metrológicaes-ES
dc.titleIntroduction to metrology managementen-US
dc.titleIntroducción a la gestión metrológicaes-ES
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion


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