Reconstrucción del perfil de índice de refracción de una fibra óptica de silicio puro por el método de los elementos finitos y el patrón de campo cercano

Reconstrucción del perfil de índice de refracción de una fibra óptica de silicio puro por el método de los elementos finitos y el patrón de campo cercano

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Autor
Castrillón-Gallego, Luis F.
Metadatos
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URI
http://test.repositoriodigital.com:8080/handle/123456789/11597
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