Reconstrucción del perfil de índice de refracción de una fibra óptica de silicio puro por el método de los elementos finitos y el patrón de campo cercano

Castrillón-Gallego, Luis F.

dc.creator	Castrillón-Gallego, Luis F.
dc.date	2007-06-26
dc.date.accessioned	2021-03-18T21:05:31Z
dc.date.available	2021-03-18T21:05:31Z
dc.identifier	https://revistas.itm.edu.co/index.php/tecnologicas/article/view/479
dc.identifier	10.22430/22565337.479
dc.identifier.uri	http://test.repositoriodigital.com:8080/handle/123456789/11597
dc.description	The purpose of this work is to show a technique to reconstruct the proflie of the index of refraction (PIR) of optic fiber, based on the comparision of the patterns of intensity of the mode of fundamental propagation base on experimentation, and the one obtained theoretically by means of the method of finite elements, using a merit function to adjust parameters. In order to validate the technique, a pure silicon nucleus fiber whose index of refraction has be en measured by the method of the refracted field near (RFN) is applied.	en-US
dc.description	El presente trabajo muestra una técnica para reconstruir el perfil de índice de refracción (PIR) de fibras ópticas, basado en la comparación de los patrones de intensidad del modo de propagación fundamental obtenido experimentalmente y el logrado teóricamente a través del método de elementos finitos, utilizando una función de mérito para ajustar parámetros. Para validar la técnica se aplica a una fibra de núcleo de silicio puro cuyo perfil de índice de refracción ha sido medido por el método de campo cercano refractado (RNF).	es-ES
dc.format	application/pdf
dc.language	spa
dc.publisher	Instituto Tecnológico Metropolitano (ITM)	en-US
dc.relation	https://revistas.itm.edu.co/index.php/tecnologicas/article/view/479/564
dc.rights	Copyright (c) 2017 Tecno Lógicas	en-US
dc.source	TecnoLógicas; Num. 18 (2007); 83-102	en-US
dc.source	TecnoLógicas; Num. 18 (2007); 83-102	es-ES
dc.source	2256-5337
dc.source	0123-7799
dc.subject	Index profile	en-US
dc.subject	optical fiber	en-US
dc.subject	finite elements	en-US
dc.subject	near field.	en-US
dc.subject	Perfil de índice	es-ES
dc.subject	fibra óptica	es-ES
dc.subject	elementos finitos	es-ES
dc.subject	campo cercano	es-ES
dc.title	Reconstrucción del perfil de índice de refracción de una fibra óptica de silicio puro por el método de los elementos finitos y el patrón de campo cercano	en-US
dc.title	Reconstrucción del perfil de índice de refracción de una fibra óptica de silicio puro por el método de los elementos finitos y el patrón de campo cercano	es-ES
dc.type	info:eu-repo/semantics/article
dc.type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type	Articles	en-US
dc.type	Artículos	es-ES

Ficheros en el ítem

Ficheros	Tamaño	Formato	Ver
No hay ficheros asociados a este ítem.

Este ítem aparece en la(s) siguiente(s) colección(ones)

tecnologia [520]

Mostrar el registro sencillo del ítem